SenCP红外显微镜，作为一台专为微观红外热成像研发和设计的专业系统，是做微观热分析不可或缺的一个有力工具，其专为作为热成像显微镜做的优化，牺牲掉普通热成像便携性，可充电等各种方便宏观热成像的功能。
同时，为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，这使得其成为MEMS,电子器件，激光器件，LED，传感器，氮化镓器件，SIC，IGBT，微观医疗器件等等，MEMS热成像分析， 光纤热像检测，测量微型换热器的传热效率， 半导体气体传感器的热分析，微反应器的温度特性，微致动器的温度测量，生物样品的温度分析， 材料热检验，热流体分析等等。
是关注微观热分布的科研或生产必不可少的一个工具。
高分辨率红外热成像：640*480像素，60hz高帧数，最高5um分辨率
SenCP专为微观热分布设计，其具有像素级发射率校正能力，常用于芯片结温和热阻的测量，
光纤通信 等应用的持续增长导致对诸如激光二极管之类的电光器件有更高的要求，关于功率要求和散热。SenCP提供了一种有效的方法来分析器件材料和热衬底的热性能
1）XY高精度移动平台，120*120mm,步进精度为10um
1）自动控制上电的继电器（八通道）：可以精准控制上电及开关，比如设计上电30s后断电，这个过程同步录像或拍照
1）发射率涂层套件：对于发射率低的器件，可以通过喷枪施加薄（1-2微米）聚合物涂层以增加表面的发射率。可承受高达200°C的连续温度
1)点，线，面的温度分析，最高点显示跟踪，研究。
线性分布：画一条线上的热分布，可通过移动垂直线，知道准确位置的准确温度
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区域热分布表：区域内不同温度的分布情况，可以移动垂直线知道该温度下有多少像素点
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热分布曲线表：可跟踪若干个点、线、面的最高，最低，平均温度，可通过移动垂直线，对某一具体时间的温度情况就行研究
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2）发射率校正：像素级发射率校正，修正发射率导致的温度测量偏差，制作发射率表
热发射率表，系统自带像素级热发射率计算和校正软件，移动鼠标可知任一点的发射率，通过校正，可测得样品的真实热分布
3）可见光及其他照片叠加，可以调节红外图像和可见光图片的透明度
4）一秒拍摄60张照片，生成照片，结合上述功能，可全面的观测分析温度与时间的关系，温度于空间的关系
